广州撞击试验报告检测流程 CTB环测威

IEC 60068-2-1低温测试的目的是确定组件、设备或其他物品在低温下使用、运输或储存的能力。本标准涵盖的低温测试无法评估样品在温度变化期间承受或操作的能力。在这种情况下，有必要使用 IEC 60068-2-14。
可靠性试验采用哪些可靠性方案：
1、序贯试验方案
2、定时结尾试验方案
3、全数试验方案

低温冲击测试依据标准
1.GB/T 2951.14、IEC 60811-1-4 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 * 14 部分：通用试验方法– 低温试验；
2.IEC 60811-506 电气和光纤电缆 - 试验方法非金属材料 - 部分 506 ：机械试验 - 在低温绝缘和护套冲击试验；
3.GB/T 5023.1、IEC60227-1 额定电压 450/750V 及以下聚氯乙烯绝缘电缆 * 1 部分：一般要求；
4./T 8734.1 额定电压 450/750V 及以下聚氯乙烯绝缘电缆电线和软线 * 1 部分： 一般规定；
5./T 8735.1 额定电压 450/750V 及以下橡皮绝缘软线和软电缆 * 1 部分：一般要求；
6. UL 1581 电线电缆和软线参考标准；
7. UL 2556 电线和电缆测试方法等。

相关检测标准：
可靠性试验 * 1 部分：试验条件和统计检验原理 GB/T5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001
可靠性试验 * 2 部分：试验周期设计 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994
设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计方法 （指数分布） GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978
设备可靠性试验成功率的验证试验方案 GB/T5080.5-1985 ，IEC 60605-5:1982
设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验 GB/T5080.6-1996 ，IEC 60605-6:1989
设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB/T 5080.7-1986，IEC60605-7:1978

可靠性测试项目
1.高温存储试验；低温放置试验；温冲试验；
2.高温工作试验；USB输入电压温度限度调整试验；
3.低温工作试验；振动试验；冲击试验；
4.静电测试（录像状态）；IP4X防尘测试；TF拔插寿命试验；
5.USB插拔寿命试验；按键寿命试验；接口剪切力测试；
6.跌落试验；盐雾测试。
环测威检测可按照标准也可按照客户要求，进行以上项目试验测试。
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